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推定故障率および推定不良率

1.推定故障率/平均故障時間(MTTF)

種類 推定故障率 平均故障時間 (MTTF)
バイポーラIC 1 Fit 1.00x10+9 時間
CMOS IC 2 Fit 5.00x10+8 時間
Bi-CMOS IC 2 Fit 5.00x10+8 時間
GaAs IC 6 Fit 1.66x10+8 時間
オプトデバイス 3 Fit 3.33x10+8 時間

2.推定不良率

種類 推定不良率
バイポーラIC 1 ppm
CMOS IC 1 ppm
Bi-CMOS IC 2 ppm
GaAs IC 1 ppm
オプトデバイス 2 ppm